表2．電源為±5 V時，LT1792在不同頻率下的阻抗測量
同時，雙極性輸入運算放大器幾乎與其FET同類產品一樣簡單。但是，由于它們與CDM電流并聯，因此它們的高輸入偏置電流和電流噪聲較為明顯。此外，雙極性差分對輸入內在的固有差分電阻RDM也與CDM并聯。表3以低噪聲精密放大器ADA4004為例，顯示了其阻抗測量。顯然，相位并不表示純容性行為，因為它遠離－90°。盡管4 MHz、5 MHz和10 MHz頻率非常接近，但并聯等效阻抗RC模型將適合本例，以便能夠從其他電阻中提取出CDM。因此，表3中顯示了在一定頻率范圍內的并聯電導GP、電納BP和CDM的計算值，其中假定CP等于CDM。
表3．電源為±15 V時，ADA4004在整個頻率范圍內的阻抗測量
根據表3中的結果，可以估算出ADA4004的CDM約為6．4 pF。結果還表明，在表3所示的整個頻率范圍內，CDM具有相當大的并聯電導GP，并非純容性CDM。測量顯示該雙極性運算放大器的實際輸入差分電阻約為40 kΩ （1／25 μS）。
附注：我們嘗試了對其他類型運算放大器進行測量，例如零漂移運算放大器（LTC2050）和高速雙極性運算放大器（LT6200）。結果非相干，推測原因是零漂移運算放大器中的開關偽現像以及高速雙極性運算放大器中的過大電流噪聲。
參考結論
測量CDM 并不困難。需要注意的一點是，HP4192A以幅度和角度報告阻抗。電容讀數假定為簡單的串聯RC或并聯RC，而運算放大器的輸入阻抗可能要復雜得多。電容讀數不應僅使用表面標稱值。每個運算放大器均具有各自的獨特情況。輸入阻抗由容性電抗主導的頻率范圍可能因設計而異。輸入級設計、所用器件和工藝、米勒效應以及封裝都可能對差分輸入阻抗及其測量產生很大的整體貢獻。我們對JFET輸入運算放大器和雙極性輸入運算放大器進行了測量，展示了CDM結果以及雙極性輸入運算放大器的RDM結果。
References
參考文獻
1 Gustaaf Sutorius．“阻抗測量的挑戰和解決方案”，是德科技，2014年3月。