原子力顯微鏡AFM的應用領域

　　在材料科學領域，AFM不但可以獲得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息，而且可以獲得材料表面物理性質分布的差異，例如摩擦力、阻抗分布、電勢分布、介電常數，壓電特性、磁學性質等。

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　　在聚合物科學領域，AFM可以獲得表面的結構以及材料表面物理性質。對樣品進行加熱，可以研究聚合物的相變過程；結合環境腔，可以研究有機溶劑氣氛下聚合物表面結構演變過程，有助于解釋聚合物失效機理。

　　在半導體工業領域，AFM可以檢測基片表面拋光缺陷、圖形化結構、薄膜表面形貌以及定量的表面粗糙度數據和深度信息，同時可以檢測表面缺陷（比如電流泄漏、結構缺陷、晶格錯位、缺陷密度和傳播等）以及表面阻抗、電勢分布、介電常數、摻雜濃度等，有利于半導體材料的可靠性、均一性和失效性分析。

　　在電化學領域，AFM可以原位研究電化學的沉積過程，揭示電化學的反應機理；可以原位研究金屬腐蝕過程，有助于解決金屬腐蝕機理；結合手套箱，可以原位研究鋰電池充放電過程，有利于提高電池效率。

　　生命科學領域，AFM不但可以原位檢測溶液下DNA，蛋白，細胞的精細結構，還可以對其進行力學和電學性質的測量，獲得生物樣品的楊氏模量以及阻抗特性。結合是德科技ZL分子識別技術，可以幫助研究人員快速識別分子級別的相互作用。

　　在AFM的系統中，當針尖與樣品之間有了交互作用之后，會使得懸臂擺動，當激光照射在微懸臂的末端時，其反射光的位置也會因為懸臂擺動而有所改變，這就造成偏移量的產生。在整個系統中是依靠激光光斑位置檢測器將偏移量記錄下并轉換成電的信號，以供SPM控制器作信號處理。