影響光譜分辨率的狀況有哪些?普通有三種狀況,比方入射狹縫、衍射光柵、探測器等,下面逐個為大家引見一下:
1、入射狹縫
入射狹縫直接影響光纖光譜儀的分辨率和光通量。光纖光譜儀的檢測器終檢測到的是狹縫投射到檢測器上的像,因而狹縫的大小直接影響到光纖光譜儀的分辨率,狹縫越小,分辨率越高,狹縫越大,分辨率越低;另外狹縫是光進入光纖光譜儀的門戶,其大小也直接影響到光纖光譜儀的光通量。狹縫越大,光通量越大,狹縫越小,光通量越小。
2、衍射光柵
衍射光柵將從狹縫入射的光在空間上停止色散,使其光強度成為波長的函數。它是光纖光譜儀停止分光檢測的根底,是光纖光譜儀的中心局部。關于一個給定的光學平臺和陣列式檢測器,我們能夠經過選擇不同的衍射光柵來對光纖光譜儀的光譜掩蓋范圍,光譜分辨率和雜散光程度停止額外的控制。
3、探測器
探測器是光纖光譜儀的中心局部,直接決議了光纖光譜儀的光譜掩蓋范圍、靈活度、分辨率及信噪比等指標。普通來說,探測器的資料決議了其光譜掩蓋范圍,硅基檢測器其波長掩蓋范圍普通為190-1100nm,而InGaAs和PbS檢測器掩蓋900-2900nm的波長范圍。而探測器的工作原理、制造辦法及摻雜資料決議了其靈活度、掩蓋范圍和信噪比等指標。
文章鏈接:儀器設備網 https://www.instrumentsinfo.com/technology/show-1681.html