傳統的點/線探測器技術：
通過測量應力引起的衍射角偏移，從而算出應力大小。測量時需要多次（一般5-7次）改變X射線的入射角，并且調整一維探測器的位置找到相應入射角的衍射角。
施加應力后，通過測角儀得到衍射角發生變化的角度，從而計算得到應力數據。
全二維面探測器技術：
單角度一次入射后，利用二維探測器獲得完整德拜環。通過比較沒有應力時的德拜環和有應力狀態下的變形德拜環的差別來計算應力下晶面間距的變化以及對應的應力。
施加應力后，分析單次入射前后德拜環的變化，即可獲得全部殘余應力信息。
