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    發布時間:2022-11-04 14:42 原文鏈接: 非化學計量化合物缺陷的形成方式

    陽離子過剩

    形成間隙陽離子

    如ZnO、CdO→Zn1+xo,Cd1+xO,過剩的金屬離子進入間隙位,為保持電中性,等價電子被束縛在間隙位的金屬離子周圍。例:ZnO在鋅蒸氣中加熱,顏色逐漸加深變化。

    負電子過剩

    形成間隙負離子。

    發現UO2+X,可以看作U3O8在UO2中的固溶體,當負離子過剩進入間隙位置時,結構中必須出現兩個電子空穴,以平衡整體電中性,相應正離子電價升高,電子空穴在電場作用下產生運動,這種材料稱P型半導體。

    形成正離子空位

    由于存在正離子空位,為保持電中性,在正離子空位周圍捕獲電子空位,因此其也是P型半導體,如Cu2O、FeO即是。例:FeO在氧氣下形成這種缺陷,實際上是Fe2O3在FeO中形成的固溶體(高價取代低價),即2個Fe3+取代3個Fe2+,同時在晶格中形成個正離子空位,在氧氣條件下,氧氣進入FeO晶格結構中,變為氧離子,必須從鐵離子獲得兩個電子,使Fe2+→Fe3+,并形成VFe。


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