如何選擇X熒光光譜儀（XRF）
應選擇歷史悠久，技術過硬，故障率低，日常運行成本低，使用年限長，性價比高，品牌過硬的儀器。Niton公司成立超過20年，其便攜式光譜儀在世界上處于ling先地位，在世界各地已安裝超過12000臺，可快捷測試元素周期表中從22號元素鈦(Ti)至83號元素鉍(Bi)中的23個標準合金成分元素，輔助氦(He)測試環境，可測定Al、Si、Mg、P等輕金屬非金屬元素。Niton便攜式X熒光光譜儀創造了以下幾個“*”：*臺環境適應性手持式XRF：采用世界先進的具有自動恒溫裝置的半導體制冷檢測器，被測樣品的環境溫度可由-60℃到600℃*臺手持式XRF使用小型X光管做光源：新型的微型X光管具有低功率率的特點，提高測試準確度*臺可測試輕金屬的手持式XRF：選配充氦裝置后，可準確測試Mg, Al, Si,P等輕金屬元素*臺具有小點測試能力的手持式XRF：可聚焦測試小元件，焊點等小目標 ......閱讀全文
清華大學儀器共享平臺Thermo－Fisher－X射線熒光光譜儀（XRF）
儀器名稱：X射線熒光光譜儀（XRF）儀器編號：16041170產地：中國生產廠家：Thermo Fisher型號：ARL PERFORM X出廠日期：201601購置日期：201612所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>電子探針、X射線熒光分室放置地點：逸夫樓A302固定電話：固定手機：固定
X射線熒光（XRF）儀的結構組成介紹
一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器
X射線熒光光譜分析（－XRF）
XRF：X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 的X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自
原子熒光光譜儀應當如何選擇
近年來原子熒光光譜儀越來越受客戶們喜愛，在應用之中，我們需要掌握相應的操作事項，按照儀器說明書的要求仔細的進行處置，才能夠發揮其功能。 原子熒光光譜儀選擇注意事項： 1、注意應用之前對設備進行調試和檢查 眾所周知市場評價高的原子熒光光譜儀生產廠家為了保證這種設備的具體功效，會在
XRF－能量色散型－X射線熒光光譜儀對人輻射大嗎
日本島津的EDX-GP是有一個上海環境保護局發出的關于其輻射豁免的正式文件，其他儀器型號你可問一下儀器廠商是否有關于這方面的證明。X熒光射線算射線中輻射危害量較小的，射線的輻射危害最大的是γ射線，若將γ射線比喻成黃蜂，那X熒光射線就相當于蜜蜂。所以單個對人體的危害不是很大，但是你們那個15平方的小房
X熒光光度計（XRF）的工作原理
受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
XRF收購Coltide的X射線熒光漂移監測業務
總部位于墨爾本的XRF公司將收購Coltide 的x射線熒光漂移監測業務。 Coltide是阿德萊德的一家X射線熒光漂移監測儀器制造商和供應商，X射線熒光漂移監測儀器由礦業公司和研究機構進行元素精確校準。Coltide由Keith Norrish博士創立，他是將波長色散X射線熒光光譜法用于礦物
微－X－射線熒光－(μXRF)的基本信息介紹
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X
如何提高X熒光光譜儀的分辨率
光譜分辨率為探測光譜輻射能量的小波長間隔，而確切的講，為光譜探測能力。它是儀器對于緊密相鄰的峰可以分辨的小波長差值，表示儀器實際分開相鄰峰的能力，即ν/△ν或（λ/△λ）,ν為兩峰中任一峰的波數，△ν為兩峰波數之差。光譜儀分辨率又稱波段寬度，它是指探測器在波長方向上的記錄寬度，又稱波段寬度(ban
教你如何識別X射線熒光光譜儀縮略術語
X射線X射線(Xray)是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現，故又稱倫琴射線。其特性通常用能量(keV)或波長(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射線是原子內層電子在高速運動電子的沖擊下產生躍遷而發射的光輻射，其波長很短約介于0.001~2
奧林巴斯X熒光光譜儀常見問題解答
X熒光光譜儀在科學技術、勘探、工業、環境、醫藥、安全等眾多領域有著廣泛的應用。奧林巴斯在工業領域主要從事XRF熒光光譜分析儀器的研發和生產，在收購伊諾斯系統有限公司后，鞏固了技術的地位。企業在購買奧林巴斯X熒光光譜儀時，會有以下常見問題待解，下面我們就針對這些問題予以解答。什么是XRF?XRF代表X
X熒光光譜儀原理
X熒光光譜儀原理當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較
X熒光光譜儀原理
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程 稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較外層
x熒光光譜儀原理
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X熒光光譜儀特點
?X熒光光譜儀特點：? 1、無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。? 2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。? 3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。? 4、配備X Y軸可移動平臺，方便樣品點選
XRF熒光光譜儀樣品的制備方法
?無論采用哪種方法，都只能用均質樣品獲得物理和化學分析方法（尤其是X射線熒光（XRF）分析）中的高精度。滿足該要求的一種簡單方法是將樣品溶解在溶劑中，通用且快速的技術是將其與堿性硼酸鹽融合。在XRF分析中，硼酸鹽熔融特別有利，因為獲得的結果是固體玻璃。在其他物理化學方法（AA和ICP分析）中，硼酸鹽
如何選擇X射線熒光分析儀的探測器？
真正評估一款分析儀是否合適，是了解它可以為您想要檢測的元素提供怎樣的分析結果。首先要從探測器上進行選擇： X射線熒光分析儀的探測器類型：PIN還是SDD 手持式XRF分析儀有兩種類型的探測器：PIN和SDD。PIN探測器是一種較為落后的技術，與SDD(硅漂移探測器)相比，價格更便宜，不過，其
天瑞儀器SUPER系列登陸XRF市場
2011年4月25日，天瑞儀器年度新品SUPER XRF2400現身“中國國際科學儀器及實驗室裝備展覽會”(CISILE)。作為天瑞SUPER XRF系列的新品，SUPER 2400首次亮相便引來眾多目光。“與普通XRF產品相比，SUPER系列有哪些特別之處?”、“SUPER系列的穩定性如何?”
如何選擇流式熒光
這個問題有點不好說，每個熒光都有自己在某個波長的最大吸收峰，原則上最大吸收峰差的越遠補償越小，FITC PE APC 最常用的三個熒光，一般一管染三種抗體就選這三個顏色，便宜，而且好染。如果再加的話可以選PE-cy7或APC-cy7，個人覺得可以，一管不宜染太多種抗體，到時候很難分析，補償也大，結果
如何正確選購手持式X射線熒光光譜儀？
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。下面我們通過主要組件看看那選購時需要注意什么。（1）氣氛X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素（原子序數Z=11）到鈾元素（原子序數Z=92）都可以利用這種技術進行檢測分
如何正確選購手持式X射線熒光光譜儀
（1）氣氛? ?X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素（原子序數Z=11）到鈾元素（原子序數Z=92）都可以利用這種技術進行檢測分析。但是對于原子序數較低的元素（鈦元素Ti，Z=22以下），空氣會對檢測結果產生較大影響；由低原子序數元素產生的熒光值通常更低，并且樣品基體
X熒光光度計（XRF）的主要特點
主要特點：（1）快速，測試一個樣品只需2min-3min；（2）無損，測試過程中無需損壞樣品，直接測試；（3）含量范圍廣；
X射線熒光光譜法XRF樣品的要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且尺寸為4-4.5cm。
能量色散－X－射線熒光－(ED－XRF)的相關介紹
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是用于元素分析應用的兩種通用型 X 射線熒光技術之一。在 EDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素都被同時激發，而能量色散檢測儀與多通道分析儀相結合，用于同時收集從樣品發射的熒光輻射，然后區分來自各個樣品元素的特性輻射的不同能量。EDXRF 系統的分辨率取決
XRF熒光光譜儀的優劣勢說明
XRF熒光光譜儀根據其分光原理不同分成波長色散型X熒光光譜儀（波譜儀，WDXRF）和能量色散型X熒光光譜儀（能譜儀，EDXRF）。我們通常所說的X熒光光譜儀就是指波長色散的儀器。 1、XRF熒光光譜儀的優勢 （1）制樣簡單。通常情況下是物理制樣。試樣經過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔
X熒光光譜儀分類及比較
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
X熒光光譜儀的保養
X熒光光譜儀工作的外部環境? 1、周圍強磁場干擾? 設備合理的工作環境，要求在沒有電機、振動、電磁、高壓或有高頻率電焊器等電磁干擾的地方安裝，否則會干擾設備的譜形或造成設備不能正常工作。? 2、環境溫度，濕度的影響? 應保持室溫20～25℃為宜，氣溫過高或過低都會影響設備的正常運作，所以配有
X射線熒光光譜儀簡介
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X熒光光譜儀的優點
X熒光光譜儀是一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。X熒光光譜儀的原理：元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，