質譜分析法術語同量（質）異位素
同量（質）異位素（isobaric nucleus）原子質量數M（M＝Z＋N）相同，質子數（Z）不同，即原子序數不同的核素。......閱讀全文
質譜分析法術語延遲引出
延遲引出（ delayed extraction）用于飛行時間質譜的一種技術，對利用激光解吸等脈沖式方法產生的離子，在離子產生一定時間（幾十納秒）之后再施加引出電壓，這樣可以抵消運動能量的分散。通過此方法可提高飛行時間的分辦能力，從而得到較高分辨率的質譜圖。
質譜分析法術語負離子
負離子（negative ions）帶負電荷的離子，產生于質譜儀的負離子源。
質譜分析法術語功函數
功函數（work function）亦稱逸出功，脫出功。一個電子從金屬或半導體的原子外層逸出時所需要的功，單位伏特。
質譜分析法術語表面電離
表面電離（surface ionization，SI）原子或分子與熾熱的固體表面相互作用實現離子化。樣品涂覆在金屬表面，當加熱金屬表面時樣品受熱蒸發，蒸發出的原子（或分子）大部分飛離金屬表面，一部分與熱金屬表面直接作用形成離子的過程即表面電離。樣品受熱激發釋放電子形成正離子稱其為正熱電離；樣品吸收電
質譜分析法術語電離效率
電離效率（ionization efficiency）電離效率泛指在特定環境下，經電離生成的原子離子數與進入電離區預測量樣品原子總數之比，電離效率的高低取決于所采用的電離方法、電離機制和電離時的相關參數。
質譜分析法術語無機質譜法
無機質譜法（ inorganic mass spectrometry）用質譜儀器對無機元素或無機化合物進行定性定量分析的方法。早期以火花源質譜法、二次離子質譜法為主，隨著電感耦合等離子體質譜法、輝光放電質譜法的成熟，拓寬了無機質譜法的應用領域。在高純氣體、高純材料中痕量雜質分析，無機物元素分析，固體
質譜分析法術語基準物質
基準物質（primary reference materials，PRMs）用權威（或絕對）方法確定其特性量值，具有最高計量特性，并給出了包括物質變動性在內的總不確定度的估計值的標準物質，其特性量值的總不確定度達到最高水平。目前國際上公認的基準物質有:用庫侖法定值的純度標準物質，用同位素稀釋質譜法定
質譜分析法術語標準物質
標準物質（reference materials，RM）亦稱參考物質。已確定其一種或幾種特性量值，用于校準測量器具、評價測量方法或確定材料特性量值的物質。標準物質是國家計量部門頒布的一種計量標準，具有以下的基本屬性:均勻性穩定性和準確量值。標準物質可以是純的或混合的氣體、液體或固體，也可以是一件制品
質譜分析法
質譜分析法是通過對被測樣品離子的質荷比的測定來進行分析的一種分析方法。被分析的樣品首先要離子化，然后利用不同離子在電場或磁場的運動行為的不同，把離子按質荷比(m/z)分開而得到質譜，通過樣品的質譜和相關信息，可以得到樣品的定性定量結果。 從J.J. Thomson制成第一臺質譜儀，到現在已有近9
質譜分析法
用高速電子束的撞擊等不同方式使試樣分子成為氣態帶正電離子，其中有分子離子M+和各種分子碎片陽離子。在高壓電場（電壓為V）加速下，質量m的帶正電粒子在磁感應強度為B的磁場中作垂直于磁場方向的圓周運動，其運動半徑r與粒子的質荷比（m／e）有如下關系：顯然質荷比大小不同的正離子將按不同的曲率半徑依次分散成
質譜分析法
質譜儀種類非常多，工作原理和應用范圍也有很大的不同。從應用角度，質譜儀可以分為下面幾類：有機質譜儀：由于應用特點不同又分為：① 氣相色譜-質譜聯用儀(GC-MS)在這類儀器中，由于質譜儀工作原理不同，又有氣相色譜-四極質譜儀，氣相色譜 質譜書籍-飛行時間質譜儀，氣相色譜-離子阱質譜儀等。② 液相色譜
質譜分析法
原理使試樣中各組分電離生成不同荷質比的離子，經加速電場的作用，進入質量分析器，通過電磁場按不同m/e的變化，分子離子及碎片離子的質量數及其相對峰度，提供分子量，元素組成及結構的信息。主要特點：（1）質量測定范圍廣泛；（2）分辨高；（3）絕對靈敏度，可檢測的最小樣品量。
質譜分析法
用高速電子束的撞擊等不同方式使試樣分子成為氣態帶正電離子，其中有分子離子M+和各種分子碎片陽離子。在高壓電場（電壓為V）加速下，質量m的帶正電粒子在磁感應強度為B的磁場中作垂直于磁場方向的圓周運動，其運動半徑r與粒子的質荷比（m／e）有如下關系：?顯然質荷比大小不同的正離子將按不同的曲率半徑依次分散
質譜分析法
質譜儀種類非常多，工作原理和應用范圍也有很大的不同。從應用角度，質譜儀可以分為下面幾類：有機質譜儀：由于應用特點不同又分為：①氣相色譜-質譜聯用儀(GC-MS)在這類儀器中，由于質譜儀工作原理不同，又有氣相色譜-四極質譜儀，氣相色譜 質譜-飛行時間質譜儀，氣相色譜-離子阱質譜儀等。②液相色譜-質譜聯
質譜分析法
先將中性分子離子化，再順次分離和記錄各種離子的質荷比和豐度先將中性分子離子化，再順次分離和記錄各種離子的質荷比和豐度( 強度)，從而實現分析目的的一種分析方法。
質譜分析法的質譜分類
電子轟擊質譜EI-MS，場解吸附質譜FD-MS，快原子轟擊質譜FAB-MS，基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALDI-TOFMS，電子噴霧質譜ESI-MS等等，不過能測大分子量的是基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALDI-TOFMS和電子噴霧質譜ESIMS，其中基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALD
質譜分析法術語不確定度
不確定度（uncertainty）是表征合理地賦予被測量之值的分散性，與測量結果相關的參數。
質譜分析法術語原子量
原子量（atomic weightrelative atomic weight）是該元素所含各穩定性同位素以碳-12的原子質量作為標準計算的原子質量的加權平均值。
質譜分析法術語精密度
精密度（precision）或稱精度。定義為在規定條件下所獲得的獨立測量結果之間的一致程度。在理解精密度的定義時，應該充分注意以下要點:精密度只取決于隨機誤差的分布，而與真值或規定值無關；精密度的度量通常用不精密度術語表示，并計成測量結果的標準偏差（standard deviation， SD）
質譜分析法術語非彈性碰撞
非彈性碰撞（inelastic collision）在離子與原子或離子與分子發生碰撞時，離子不僅僅改變了運動方向，而且離子與這些粒子還發生能量交換，這類碰撞就稱為非彈性碰撞。
質譜分析法術語電離效率曲線
電離效率曲線（ionization efficiency curve）特定離子的離子流強度隨提供的能量大小變化的曲線。
質譜分析法術語系統誤差
系統誤差（systematic error）對同一測量物的測量過程中保持不變或以可以預見的方式變化的誤差分量。它是獨立于測量次數的，不能在相同的測量條件下通過增加測量次數的方法使之減小。但是，可以根據對產生誤差的原因分析，用已知的相關因子進行校正來消除系統誤差。
質譜分析法術語原子量
原子量（atomic weightrelative atomic weight）是該元素所含各穩定性同位素以碳-12的原子質量作為標準計算的原子質量的加權平均值。
質譜分析法術語精確質量測定
精確質量測定（ exact mass measurement）以12C的質量12.00000000標準，采用高分辨質譜儀準確地測定元素（或核素）質量的方法，稱精確質量測定。
質譜分析法術語質量范圍
質量范圍（mass range）質譜儀能夠測量的原子質量的范圍，或能夠測量的分子的分子量范圍，單位為質量單位。
質譜分析法術語負離子電離
負離子電離（negative ion ionization，NII）對于具有電子親和力比較大的元素捕獲一個電子可生成負離子，這種離子化的方法稱為負離子電離法。
質譜分析法術語火花源質譜法
火花源質譜法（spark source mass spectrometry，SSMS）采用火花源質譜儀對被測成分（元素、同位素）進行定性、半定量和定量分析的質譜方法。該法電離效率高，幾乎能使所有被測成分電離，且對所有元素有大致相同的電離效率，實現多元素同時檢測，曾經是高純材料、痕量雜質測量的有效方法
質譜分析法術語表面電離質譜法
表面電離質譜法（surface ionization mass spectrometry）熱電離質譜法的一種，將預測量樣品涂覆在高熔點、高功函數的金屬帶表面或金屬絲表面，借助通過帶或絲的電流產生的高溫而電離，電離生成的離子進入質量分析器進行分離和測量。
質譜分析法術語隨機誤差
隨機誤差（random error）在測試過程中因隨機因素作用產生的具有抵償性的誤差稱為隨機誤差。隨機誤差遵循統計規律，隨著測量次數增加逐漸降低；理論上當測量次數足夠多時，隨機誤差的平均值趨向于零。
質譜分析法術語場致電離
場致電離（field ionization，FI）將金屬絲或金屬針加上高電壓，形成107～108V/cm的高場強，氣態的樣品分子在強電場作用下失去電子生成分子離子，分子離子的能量為12～13eV，適用于可以氣化的有機化合物的離子化，是一種溫和的“軟”電離方式。