XRF檢測的理論影響系數法介紹
對多數類型的樣品，總有一些XRF無法探測到的元素（H-F）存在，往往這些超輕元素在樣品中占有一定的濃度，是樣品中基體組成部分，而其它元素的峰強度與基體組成直接相關，X射線熒光分析數據處理技術與基體校正數學模型的研究是該領域的重點，這一領域研究主要圍繞著基本參數法和理論影響系數法展開。 理論影響系數法也稱為理論α系數法，其在利用基本參數方程推導基礎上，選取特定濃度范圍的標準樣品或定值樣品，建立二元或三元體系，應用一定的數學模型建立元素間的理論校正系數，具備了標樣需求少、適用范圍寬、準確度提升等優點。已經建立的理論影響系數在隨著樣品組成的變化而改變，需要實時適應這種變化的計算方法或計算機程序。......閱讀全文
XRF檢測的理論影響系數法介紹
對多數類型的樣品，總有一些XRF無法探測到的元素（H-F）存在，往往這些超輕元素在樣品中占有一定的濃度，是樣品中基體組成部分，而其它元素的峰強度與基體組成直接相關，X射線熒光分析數據處理技術與基體校正數學模型的研究是該領域的重點，這一領域研究主要圍繞著基本參數法和理論影響系數法展開。 理論影響
X射線熒光光譜儀理論影響系數法介紹
對多數類型的樣品，總有一些XRF無法探測到的元素（H-F）存在，往往這些超輕元素在樣品中占有一定的濃度，是樣品中基體組成部分，而其它元素的峰強度與基體組成直接相關，X射線熒光分析數據處理技術與基體校正數學模型的研究是該領域的重點，這一領域研究主要圍繞著基本參數法和理論影響系數法展開。 理論影響
XRF元素定量分析的經驗系數法介紹
經驗系數法不可避免的問題是離不開標準樣品，如果存在元素之間的吸收增強效應，為了通過最優化算法得到元素之間互相的影響系數，需要的標準樣品的個數會更多。即使有足夠多的合格標準樣品（通常是比較難的），得到的數學模型的適用范圍也會受限，通常不能超出標樣涵蓋的范圍。之所以多數X射線熒光分析儀分析的元素種類
XRF分析中MLD系數的理論計算與應用研究
在X射線熒光光譜分析中,用熔融法制樣分析無機材料的化學成分是較普遍的做法。在制作未知樣熔片時,通常要保證其熔劑與樣品質量之比(稀釋比)與制作校準曲線時校準樣品熔片的稀釋比相等,以使強度具有可比性。若對強度做稀釋比校正,則不再需要未知樣稀釋比與校準樣嚴格一致,可以顯著提高分析效率。本文的目的是根據稀釋
激光閃光法檢測導熱系數方法介紹
激光閃光法 1961年，Parker等開始了利用激光脈沖技術測量材料的熱物理性能的研究，由于這種技術具有測量精度高、測試周期短和測試溫度范圍寬等優點，得到廣泛的研究和應用，經過不斷發展和完善，目前激光閃射法已經成為一種成熟的材料熱物理性能測試方法。 激光閃射法是目前世界上最先進的材料熱物理性
XRF儀器的理論基礎
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自
XRF儀器的基本理論
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到
關于XRF的理論基礎
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子
定量模型影響XRF定量精度的介紹
XRF定量模型的建立要充分考慮標準樣品的選擇、基體的匹配、校正算法的建立、目標樣品的適用性等，這些方面都會影響到定量精度，往往這些方面需要分析工作者有豐富的經驗。
樣品制備影響XRF定量精度的介紹
XRF樣品制備簡單，但并非無需樣品處理，XRF對樣品中元素分布均勻性、樣品顆粒度、樣品表面光滑度、表面粉塵、礦物效應等有要求，這些方面都會不同程度影響分析精度，使用者可以通過相關的樣品制備方法消除或者改善這些影響，譬如：研磨、壓片、拋光、熔片等方法是XRF通常采用的樣品制備方法。
XRF中白云鄂博礦元素間基體效應及影響系數的研究
白云鄂博礦在我國稀土產業的發展過程中具有十分重要的地位。因此，以不破壞白云鄂博礦的形態為前提條件下，對其進行快速、準確的分析是非常重要的。X射線熒光光譜分析技術具有可直接對塊狀、粉末狀樣品進行分析的特點，同時其還具有分析準確度高、分析元素范圍廣（Na-U）、分析速度快、操作簡便等優點，正好能滿足快速
質量控制影響XRF定量精度的介紹
在分析目標樣品過程中，采用其它實驗室分析方法進行定量精度的控制是必要的，不同分析方法存在偏差是必然的，當偏差較大時，應進一步充分驗證兩種分析方法的精度，目標是提升XRF定量精度。
樣品適應性影響XRF定量精度的介紹
即使建立可靠的定量模型，但對目標樣品適應性也非一勞永逸，也要充分考慮目標樣品的物理形態、元素含量范圍、基體與標準樣品一致性等條件，這些條件與建立定量模型采用的標準樣品不一致，會一定程度造成定量誤差。
XRF檢測定性原理的相關介紹
X射線熒光光譜分析是指試樣中的元素受到足夠能量的激發后發射出特征X射線(熒光)，根據特征X射線的波長及其強度進行定性、定量分析的方法。 眾所周知，原子是由原子核和核外電子構成的，電子處在核外不同能級的殼層上，這些殼層自內向外依次稱為K(n＝1)層，L(n＝2)層，M(n＝3)層……當用具有足夠
XRF元素測量的基本參數法介紹
X射線管出射譜（或測量得到）； X射線光與物質相互作用，即產生元素熒光射線的過程； 采用迭代求解算法對探測器采集譜和計算譜擬合計算，得到元素含量； 基本參數法是對X射線的產生入射、X射線與物質相互作用、探測器的采集譜，根據已經掌握的數據庫和物理理論進行計算，將計算譜與實測譜進行對比，通過迭
XRF檢測原理
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X?射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種
氧化還原反應待定系數法介紹
待定系數法 1．配平原理 質量守恒定律說明，在發生化學反應時，反應體系的各個物質的每一種元素的原子在反應前后個數相等。通過設出未知數（如x、y、z等均大于零）把所有物質的計量數配平，再根據每一種元素的原子個數前后相等列出方程式，解方程式（組）。計量數有相同的未知數，可以通過約分化簡。 2．
影響分配系數的因素
微量元素的分配受體系總成分、溫度和壓力等因素的影響。
分配系數的影響因素
微量元素分配系數受體系成分、溫度、壓力、氧逸度等因素影響。1.體系化學成分的影響分析微量元素分配系數的資料可以發現：不同成分體系中，某一微量元素對同一種礦物的分配系數有較大的差別。實際上，體系成分對微量元素分配系數的影響包括兩個方面：既有礦物自身成分的影響，也有與其平衡的熔體成分的影響。研究證明，S
分配系數的影響因素
為了使微量元素的行為定量化,必須確定控制分配系數的所有因素。大多數情況下,由于微量元素類質同象進入礦物的晶格,因此晶格應變能 (lattice strain energy)在決定(礦物的亨利定律常數)對于分配系數Di的貢獻上是重要的(Blundy et al.,2003)。應變能隨“正常”和替代離子
摩爾吸光系數的影響因素
摩爾吸光系數的大小與待測物、溶劑的性質及光的波長有關。待測物不同，則摩爾吸光系數也不同，所以，摩爾吸光系數可作為物質的特征常數。溶劑不同時，同一物質的摩爾吸光系數也不同，因此，在說明摩爾吸光系數時，應注明溶劑。光的波長不同，其吸光系數也不同。單色光的純度越高，摩爾吸光系數越大。
摩擦系數檢測儀的介紹
名稱：摩擦系數檢測儀 英文名稱：Coefficient of Friction Tester 學術別名：摩擦系數儀、摩擦系數試驗儀、摩擦系數測定儀、薄膜摩擦系數試驗機、滑爽性測試儀、摩擦系數測試儀、摩擦性測試儀 設備用途：適用于測量塑料薄膜和薄片、橡膠、紙張、紙板、輸送帶、輪胎等材料滑動時
XRF定量精度的影響有哪些？
1) 樣品制備 XRF樣品制備簡單，但并非無需樣品處理，XRF對樣品中元素分布均勻性、樣品顆粒度、樣品表面光滑度、表面粉塵、礦物效應等有要求，這些方面都會不同程度影響分析精度，使用者可以通過相關的樣品制備方法消除或者改善這些影響，譬如：研磨、壓片、拋光、熔片等方法是XRF通常采用的樣品制備方法
XRF快速檢測儀功能特點的介紹
1、激發源測試管壓高，元素測試范圍更寬，重元素激發效果更好，重元素的檢測限更低。 2、大面積探測器，輸入計數率高，分析速度更快，測試結果精度更高，穩定性更好。分辨率更低，元素分辨能力更強，有限降低元素間的譜線干擾。（如Cu對Zn元素的譜線干擾， Fe元素逃逸峰對Ti元素的干擾） 3、儀器響應
XRF分析儀樣品制備化學富集法的介紹
1）沉淀法 螯合物沉淀法（DDTC法）是使溶液中的各金屬陽離子與螯合物試劑反應后沉淀過濾，鰲合物沉淀劑常用的有DDTC（銅試劑）、PAN（1-（2-吡啶偶氮）-2-萘酚），8-羥基喹啉，其特點是均可與近20種元素產生螯合物沉淀。 沉淀法是加入適合于溶液中各元素的沉淀劑和共沉淀劑使之反應，然
XRF分析的熔片法程序
1.加熱樣品和硼酸鹽助熔劑的混合物，直到助熔劑融化；2.繼續加熱直到樣品溶解到助熔劑中，并攪拌以使熔體均勻化；3.將熔融玻璃倒入熱模中；4.冷卻以獲得堅固的玻璃盤，無需任何其他處理即可進行X射線測量。要進行融合實驗，必須了解使用的工具，融合混合物的成分，融合前的準備工作以及融合程序。將考慮所有這些，
影響XRF定量精度的因素有哪些？
1) 樣品制備 XRF樣品制備簡單，但并非無需樣品處理，XRF對樣品中元素分布均勻性、樣品顆粒度、樣品表面光滑度、表面粉塵、礦物效應等有要求，這些方面都會不同程度影響分析精度，使用者可以通過相關的樣品制備方法消除或者改善這些影響，譬如：研磨、壓片、拋光、熔片等方法是XRF通常采用的樣品制備方法
平面摩擦系數檢測儀器介紹
以Labthink蘭光的MXD-02摩擦系數儀為例介紹，設備符合GB10006、ASTM D1894等多種測試標準，測試精度高達0.5級，可進行各種平面材料的動、靜摩擦系數的精確測量；同時可根據客戶測試需求進行特殊定制，滿足不同條件的試驗。【技術特征】一次試驗便可同時測定試樣的動、靜摩擦系數試驗速度
消光系數的測定（Scopes－法)－實驗
試劑、試劑盒透析緩沖液牛血清白蛋白（BSA) 或σ32 溶液儀器、耗材干凈的石英比色皿分光光度計實驗步驟材料與設備牛血清白蛋白（BSA) 或σ32?溶液，濃度約為 1mg/ml干凈的石英比色皿分光光度計，可在 205nm 和 280nm 讀數的試劑透析緩沖液(配方，見"試劑的配制"，PP.184~1
消光系數的測定（Scopes－法)－實驗
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