一文了解彎晶技術
1、彎晶概述 北京泰坤工業設備有限公司開發各類型X射線衍射彎晶。提供多種材料的彎晶制備， 如石墨、氟化鋰晶體系列、鍺和硅等；同時致力于開發多種 結構的彎晶構型，包括約翰型、約翰森、對數螺線、橢球和 Von Hamos等。 彎晶廣泛應用于單色X射線熒光激發、同時多道型波長色 散X射線熒光光譜儀、雙彎晶X射線熒光測量、以及彎晶譜 儀和中子衍射等領域。 北京泰坤的服務范圍涵蓋了彎晶的設計、制作和測試， 并提供一站式的彎晶套裝解決方案。 2、工作原理 彎晶的設計原理基于布拉格衍射定律，即當入射X射線與晶體晶格相互作用時，會發生衍射現象。通過合理選擇材料和彎晶的形狀，能夠精確控制X射線的衍射效應，從而實現X射線的單色反射聚焦。由 于X射線對所有物質的折射率接近為1，衍射是極少數能改變X射線傳播方向的方案之一，使得彎晶成為 重要的X射線光學器件。雙曲結構的彎晶還可以實現單色X射線的點對點聚焦。 3、彎晶材料北京泰坤進行了......閱讀全文
X射線粉晶衍射儀(XRD)
1.儀器設備簡介【儀器名稱】X射線衍射儀【生產公司】德國Bruker AXS D8-Focus【儀器型號】D8-FOCUS【測試條件】CuKα射線，Ni濾波，40kV，40mA，LynxEye192位陣列探測器，掃描步長0.01°2θ，掃描速度每步0.05秒，λ= ? ? ? ?1.5405
x射線粉晶衍射儀的工作原理
x射線粉晶衍射儀主要應用在晶體材料的物相（包括元素、化合物、固溶體）分析，材料的晶格計算，殘余應力等方面。主要原理是依據布拉格方程，利用已知波長的X射線照射在樣品表面，獲得圖譜，從而得到所要信息。樣品可以是塊狀也可以是粉末狀
粉晶X射線衍射定性相分析
11.3.2.1 粉晶X射線定性相分析的基本原理和方法粉晶X射線定性相分析(物相鑒定)是指用X射線粉晶衍射數據對樣品中存在的物相(而不是化學成分)進行鑒別。其理論根據是：任何一種結晶物質都具有特定的晶體結構，在一定波長的X射線照射下，每種晶體物質都有自己特有的衍射花樣，即衍射譜線，不可能存在衍射花樣
一文了解彎晶技術
1、彎晶概述 北京泰坤工業設備有限公司開發各類型X射線衍射彎晶。提供多種材料的彎晶制備， 如石墨、氟化鋰晶體系列、鍺和硅等；同時致力于開發多種 結構的彎晶構型，包括約翰型、約翰森、對數螺線、橢球和 Von Hamos等。 彎晶廣泛應用于單色X射線熒光激發、同時多道型波長色 散X射線熒光光譜儀
小角X射線散射技術測定非晶合金的介紹
非晶合金也稱金屬玻璃，它是急冷得到的亞穩定合金，在加熱過程中會產生一系列的轉變，逐漸由亞穩態轉變到穩定態。在這個過程中會發生相分離以及晶化過程。已有許多學者利用小角X射線散射技術來研究非晶合金中的這些轉變。 用原位小角X 射線散射研究了塊體非晶合金Zr55Cu30Al10Ni5的退火行為。研究
X射線晶體學的多重同晶置換（MIR）概念
把對X射線散射能力大的重金屬原子作為標識原子。這種置換入重原子的大分子應與無重原子時的原晶體有相同的晶胞參數和空間群，且絕大多數原子的位置相同，故稱同晶置換。從這些含重原子晶體的衍射數據，利用基于派特遜法的方法可解出重原子的位置，據此算出其結構因子和相角，進而利用相角關系計算出沒有重原子的原晶體的相
用X射線能譜(TEM)分析晶界偏析的方法
本文利用EM400T透射電子顯微鏡和EDAX9100能譜儀研究微量元素在晶界的偏聚。通過本文采用的電子束直徑小到40A的微探針,低背底樣品臺,沿晶界拉長束斑,分段積分等措施,明顯地提高了分析靈敏度。用這種方法測量了含磷820ppm的Si-Mn高強度鋼和含鎂94ppm的GH169高溫合金中P和Mg的晶
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
關于X射線單晶體衍射儀的同晶置換法介紹
這種方法是設法把對X射線散射能力大的重金屬原子，如Hg，Pb，Se等引入生物分子中，作為標識原子。這種置換入重原子的大分子應與無重原子時的原晶體有相同的晶胞參數和空間群，且絕大多數原子的位置相同，故稱同晶置換。從這些含重原子晶體的衍射數據，利用基于派特遜法的方法可解出重原子的位置，據此算出其結構
微－X－射線熒光－(μXRF)技術詳解
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X 射線
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
非金屬材料的X射線衍射技術內容
非金屬材料的X射線衍射技術可以分析材料合成結構、氧化物固相相轉變、電化學材料結構變化、納米材料摻雜、催化劑材料摻雜、晶體材料結構、金屬非金屬氧化膜、高分子材料結晶度、各種沉積物、揮發物、化學產物、氧化膜相分析、化學鍍電鍍層相分析等。
x射線熒光光譜儀材料辨識功能
x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。x射線熒光光譜儀檢測技術的改進提高了檢測速度。探測器技術及用于脈沖信號處理的電子學線路的迅速發展，在允許的死時間情況下，探測器接收光子的數量提高了1個數量級以上。? 儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能
X射線管中X射線的產生原理
實驗室中X射線由X射線管產生,X射線管是具有陰極和陽極的真空管,陰極用鎢絲制成,通電后可發射熱電子,陽極（就稱靶極）用高熔點金屬制成（一般用鎢,用于晶體結構分析的X射線管還可用鐵、銅、鎳等材料）.用幾萬伏至幾十萬伏的高壓加速電子,電子束轟擊靶極,X射線從靶極發出.
單波長能量色散X射線熒光分析技術
單波長能量色散X射線熒光分析技術(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠雙曲面彎晶、二次靶或者多層膜彎晶等技術，將X射線管出射譜中的單一能量衍射聚焦到樣品一點，激發樣品中元素熒光，這樣極大降
X射線散射
美國物理學家康普頓（Arthur Holy Compton，1892～1962）在大學生時期就跟隨其兄卡爾·康普頓開始X射線的研究。后來他到了卡文迪什實驗室，主要從事g射線的實驗研究。他用精湛的實驗技術精確測定了γ射線的波長，并確定γ射線在散射后波長會變得更長。但他沒能從理論上解釋這個實驗事實。他到
X射線治療
X射線應用于治療[7]，主要依據其生物效應，應用不同能量的X射線對人體病灶部分的細胞組織進行照射時，即可使被照射的細胞組織受到破壞或抑制，從而達到對某些疾病，特別是腫瘤的治療目的。
X射線光譜
1914年，英國物理學家莫塞萊（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射線光譜儀研究不同元素的X射線，取得了重大成果。莫塞萊發現，以不同元素作為產生X射線的靶時，所產生的特征X射線的波長不同。他把各種元素按所產生的特征X射線的波長排列后，發現其次序與元素周期表中的次序一致，他稱這
X－射線激光
X 射線激光指的是 XFEL （x-ray free-electron laser），X 射線自由電子激光。而這種激光，是將自由電子激光技術（FEL）產生的激光，拓展到 X 射線范圍內而產生的一種 X 射線激光。這種激光的強度可達傳統方法產生的激光亮度的十億倍，因此可讓較小晶體產生出足夠強的衍射圖樣
X射線原理
X射線定義X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流，是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁波。其波長很短約介于0.01~100埃之間。X射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片
X射線診斷
X射線應用于醫學診斷[6]，主要依據X射線的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由于X射線穿過人體時，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射線量比肌肉吸收的量要多，那么通過人體后的X射線量就不一樣，這樣便攜帶了人體各部密度分布的信息，在熒光屏上或攝影膠片上引起的熒光作用或感光作用的強弱就有較大
波長色散X射線熒光光譜儀利用原級
X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源，分光系統，探測器系統，真空系統和氣流系統等部分組成。根據分析晶體的
波長色散X射線熒光光譜儀利用原級的介紹
X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源，分光系統，探測器系統，真空系統和氣流系統等部分組成。根據分析晶體的聚焦幾何條件不同,分為非聚焦反射平晶式,半聚焦反射彎晶式，全聚焦反射彎晶式，半聚焦透射彎晶式等。
x射線衍射儀和x射線機有什么不同
X射線衍射儀和X射線機有什么不同我覺得X射線機是用來照射X光線X射線衍射線一他是用來衍射的他倆不同
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
什么是連續X射線和特征X射線譜
連續X射線，是電子跑著跑著突然被原子核拉住，能量沒地兒放，于是放出X射線，這里放出的能量是連續的。特征X射線是處于特定能級的電子吸收光子，處于激發態，跑到低能級上放出的能量，故是一份一份的，具有明顯衍射峰。介紹陰極射線的電子流轟擊到靶面，如果能量足夠高，靶內一些原子的內層電子會被轟出，使原子處于能級
高能X射線能譜測量中衰減材料特性影響
基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量,采用蒙特卡羅成像模擬的方法研究衰減材料選擇對能譜準確穩定重建的影響。設計多孔準直模型模擬X射線穿過不同衰減材料的透射過程,并在單次成像中獲得完整的衰減透射率曲線。由衰減透射率求解能譜是一種病態條件問題,采用改進的迭代擾動法進行解譜,計算時考慮透射率計算值與真實值
什么是波長色散型X射線熒光光譜儀
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。?X射線或其
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
高頻X射線機和工頻X射線機的區別
高頻機與工頻機的不同 高頻機是指高壓發生器的工作頻率大于20kHz的X線機，工頻機是指高壓發生器的工作頻率小于400Hz的X線機。工頻機將50Hz的工頻電源升高壓整流后有100Hz的正弦紋波，經濾波后仍有10％以上的紋波，高頻機工作頻率高，高壓整流后的電壓基本上是恒定的直流，紋波可小于0.1％